成果簡介：光學投影式三維形貌測量方法是一種非接觸、高精度、快速獲取被測物三維形貌的方法。基于此方法開發研制而成的測量系統可在 1 分鐘內獲取測量區域 10cm2-400cm2 內被測物三維形貌，測量分辨率可達到 200μm。該系統硬件部分包括小型化條紋投射裝臵、高分辨率數字 CCD 相機和控制電路，自行編寫的軟件擁有儀器控制、圖像采集、分析和可視化等功能并嵌套相位解包裹專用算法。便攜式設計使該套系統可方便應用于車間、廠礦等各種測量環境。