一、技術開發單位
　　 北京理工大學
　　 二、技術簡介
　　 光學投影式三維形貌測量方法是一種非接觸、高精度、快速獲取被測物三維形貌的方法。該系統硬件部分包括小型化條紋投射裝置、高分辨率數字CCD相機和控制電路，自行編寫的軟件擁有儀器控制、圖像采集、分析和可視化等功能并嵌套相位解包裹專用算法。
　　 三、技術特點
　　 基于此方法開發研制而成的測量系統可在1分鐘內獲取測量區域10～400cm2內被測物三維形貌，測量分辨率可達到200μm。
　　 四、技術水平
　　 該系統的測量速度及精度處于國內較為先進的水平且造價低廉，科研和教學領域均可使用。
　　 五、可應用領域和范圍
　　 加工制造業中的逆向工程、產品檢測，生物醫學中的器官測量與建模和服裝制造業中的虛擬試衣等。
　　 六、專利狀態
　　 獨立知識產權。
　　 七、技術狀態
　　 樣品階段。
　　 八、合作方式
　　 技術轉讓。
　　 八、投入需求
　　 需要技術需求方進一步投入資金支持。
　　 九、預期效益
　　 該套系統造價比國外同類試驗設備造價低5～10倍左右，具有較大的潛在經濟效益和應用空間。
　　 十、聯系方式
　　 聯 系 人：馬少鵬
　　 電    話：010-68912736
　　 電子郵箱：masp@bit.edu.cn