晶體硅太陽能電池的表面金屬歐姆接觸的好壞通過接觸電阻來反映。在太陽能電池電極優化中，接觸電阻是需要考量的一個重要方面。接觸電阻的大小不僅與接觸的圖形有關，還與擴散工藝及接觸形成工藝有關。不同柵線圖形的歐姆接觸好壞可以通過接觸電阻率的大小來反映。因此，通過對接觸電阻率的研究計算可以反映擴散、電極制作和燒結等工藝中存在的問題。但現在的測量方法存在測量時間長、效率低、精度差等缺陷，而又同時缺少一種專門測量太陽能電池接觸電阻的測試設備，因此不利于太陽能電池接觸電阻測量在產線上的應用。本技術成果采用TLM法測量接觸電阻，結合電機平臺、攝像頭及計算機控制等技術已基本能實現自動測量和結果分析計算等功能。

　　市場預測：

　　本技術成果可應用于電池生產廠家、銀漿生產廠家等與電池柵線工藝有關的企業，以便快速測量柵線接觸電阻檢測改進工藝。目前還沒有成熟的本類產品，如能及早開發及產業化推廣，本技術開發的產品將在市場上占得先機。目前，實驗室已制備出可以應用的樣機，某些銀漿生產廠家已試用過并以測量結果作為參考改進產品。希望投資者能有一定的資金且具有使產品更加規范化和商業化的能力。

　　知識產權及獲獎情況：

　　具有核心技術，已獲發明專利授權。

　　合作方式：面議

　　聯系單位：中山大學科學研究院產學研合作處

　　聯系人：何健敏 章向宏

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